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  • HCTZ-2S北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀
    HCTZ-2S北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2024-06-13

    型號(hào)：HCTZ-2S

    瀏覽量：2891

    HCTZ-2S北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
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  • 醫(yī)用耐壓測(cè)試儀系列
    醫(yī)用耐壓測(cè)試儀系列

    更新時(shí)間：2023-08-21

    型號(hào)：

    瀏覽量：2822

    醫(yī)用耐壓測(cè)試儀系列是符合GB9706.1規(guī)則的交流耐壓測(cè)試儀，主要用于檢測(cè)醫(yī)用電子設(shè)備材料的絕緣強(qiáng)度等技術(shù)指標(biāo)。該儀器外形美觀、操作方便，輸出電壓由數(shù)字面板表顯示，清晰、直觀、準(zhǔn)確。整機(jī)技術(shù),布局合理，具有、可靠性好、維修方便等優(yōu)點(diǎn)。
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  • HCTZ-2S北京華測(cè)試驗(yàn)儀器四探針測(cè)試儀
    HCTZ-2S北京華測(cè)試驗(yàn)儀器四探針測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2023-08-29

    型號(hào)：HCTZ-2S

    瀏覽量：2312

    HCTZ-2S北京華測(cè)試驗(yàn)儀器四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
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  • HCTD-800HCTD高溫鐵電測(cè)試儀/參數(shù)分析儀
    HCTD-800HCTD高溫鐵電測(cè)試儀/參數(shù)分析儀

    更新時(shí)間：2024-06-04

    型號(hào)：HCTD-800

    瀏覽量：2602

    HCTD高溫鐵電測(cè)試儀/參數(shù)分析儀用于鐵電體的鐵電測(cè)量，。本測(cè)試系統(tǒng)主要包括可編程信號(hào)源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機(jī)接口部分、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。
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  • HC-200S水平垂直燃燒儀
    HC-200S水平垂直燃燒儀

    更新時(shí)間：2023-08-21

    型號(hào)：HC-200S

    瀏覽量：2299

    水平垂直燃燒儀用于測(cè)試塑料類及非金屬材料類物質(zhì)燃燒的試驗(yàn)儀器。適用于塑料和非金屬材料試樣處于50W火焰條件下，水平或垂直方向燃燒的試驗(yàn)室測(cè)定方法。
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  • HCTD-800高溫鐵電測(cè)試儀/分析儀
    HCTD-800高溫鐵電測(cè)試儀/分析儀

    更新時(shí)間：2024-12-12

    型號(hào)：HCTD-800

    瀏覽量：2292

    高溫鐵電測(cè)試儀/分析儀用于鐵電體的鐵電測(cè)量，本測(cè)試系統(tǒng)主要包括可編程信號(hào)源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機(jī)接口部分、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。
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  • HCTZ-2S華測(cè)四探針測(cè)試儀
    HCTZ-2S華測(cè)四探針測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2024-06-13

    型號(hào)：HCTZ-2S

    瀏覽量：2516

    HCTZ-2S華測(cè)四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
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  • HCTZ-2S北京華測(cè)四探針測(cè)試儀
    HCTZ-2S北京華測(cè)四探針測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2024-06-13

    型號(hào)：HCTZ-2S

    瀏覽量：2517

    HCTZ-2S北京華測(cè)四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
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